LuphoScan測(cè)量平臺(tái)是一款基于多波長(zhǎng)干涉技術(shù)（MWLI）的干涉式掃描測(cè)量系統(tǒng)。LUPHO Scan是基于MWLI方法技術(shù)（多波長(zhǎng)干涉儀）的測(cè)量設(shè)備。設(shè)計(jì)用于旋轉(zhuǎn)對(duì)稱光學(xué)組件（例如非球面透鏡）的精密非接觸式3D形狀測(cè)量的目的，可以在納米級(jí)上測(cè)量3D光學(xué)組件的真實(shí)形狀。 它專為旋轉(zhuǎn)對(duì)稱表面的精密非接觸式3D形狀測(cè)量而設(shè)計(jì)， 例如非球面光學(xué)透鏡。LuphoScan平臺(tái)能夠輕松進(jìn)行非球面、球面、平面和自由曲面的測(cè)量。 該儀器的主要特性包括高速測(cè)量、特殊表面的高靈活度測(cè)量（例如：拐點(diǎn)的輪廓或平坦的尖點(diǎn)）。 因?yàn)椴捎枚嗖ㄩL(zhǎng)干涉技術(shù)（MWLI）傳感器技術(shù)， 因此能夠掃描各種表面類型如透明材料、金屬部件和研磨表面。能夠測(cè)量120/260/420/600毫米直徑光學(xué)組件的高速非接觸式3D光學(xué)表面形狀測(cè)量?jī)x/輪廓儀.

LuphoScan測(cè)量系統(tǒng)用于測(cè)量可旋轉(zhuǎn)的對(duì)稱表面的3D拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， 例如凹面球面透鏡和凸面球面透鏡。 測(cè)量工作臺(tái)的設(shè)計(jì)能夠確保測(cè)量大多數(shù)的透鏡， 而不受任何球形偏離、罕見頂端形狀（平頭）、傾斜或者發(fā)射點(diǎn)圖的限制。除了標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量應(yīng)用外， 還可以使用LuphoScan測(cè)量平臺(tái)的特殊擴(kuò)展工具LuphoSwap不同擴(kuò)展功能， 來完成多種光學(xué)要素特征的測(cè)量。該工具能夠輔助測(cè)量透鏡厚度， 以及楔形與偏心誤差。 除此之外， 額外的附加軟件類型能夠直接測(cè)量間斷的透鏡，如分段表面包括矩形部件、環(huán)形透鏡、有衍射階梯的表面和錐透鏡。