MINITEST2100測(cè)厚儀EPK代理信息

德國(guó)Elektrophysik MINITEST2100膜厚儀

EPK MINITEST 2100校準(zhǔn)方式 ：

EPK MINITEST1100/2100有以下五種不同的校準(zhǔn)方式：標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn):適合平整光滑的表面和大致的測(cè)量。例如，低于一點(diǎn)校準(zhǔn)精度要求的場(chǎng)合。

一點(diǎn)校準(zhǔn):置零，不用標(biāo)準(zhǔn)箔。用于允許誤差超過3%的場(chǎng)合。

二點(diǎn)校準(zhǔn):置零，用一片標(biāo)準(zhǔn)箔。用于誤差范圍在1-3%(*大)之間的測(cè)量。探頭誤差范圍應(yīng)另考慮。

二點(diǎn)校準(zhǔn):置零，用二片標(biāo)準(zhǔn)箔。用于以下場(chǎng)合:

• A). 在粗糙表面測(cè)讀;

• B). 厚度在兩片箔厚之間的平滑表面的測(cè)量。

透過厚度未知涂層的校準(zhǔn):用箔校準(zhǔn)(僅適用于F06、F1.6、F3、作F用的FN2測(cè)頭,以及F1.6/90、F2/90、F10、F20、F50探頭)。如果被測(cè)樣本在校準(zhǔn)時(shí)，沒有無(wú)涂層的用于比較的樣本，應(yīng)當(dāng)采用此法校準(zhǔn)。

注意:校準(zhǔn)箔是指所有的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，包括2mm，5mm，10mm厚的標(biāo)準(zhǔn)板。