FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500 x射線測厚儀

菲希爾X射線熒光測厚儀, Fischerscope X-RAY XAN500 是一款可移動使用并且應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，它特別適用于鍍層厚度的無損測量及材料分析。適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

 FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500 x射線測厚儀

Fischerscope X-RAY XAN500 是一款可挪動運用并且應用普遍的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及資料剖析儀，它特別適用于鍍層厚度的無損丈量及資料剖析。適用于客戶停止質量控制、進料檢驗和消費流程監控。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500是一款應用普遍的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及資料剖析儀。它特別適用于丈量和剖析薄鍍層以及停止資料剖析。正如一切的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的準確性以及長期的穩定性，這樣就顯著減少了校準儀器所需的時間和精神。

XAN500采用硅漂移探測器可以到達十分高的剖析精度及探測靈活度。依托FISCHER的完整根本參數法，能夠在沒有校驗規范片校正的狀況下剖析固、液態樣品的成分及丈量樣品的鍍層厚度。

運用XAN500型手持式儀器能夠對大型工件以及臺式儀器難以丈量的位置停止便利快速的丈量。設計構造的優化使得儀器能夠唄平安第放置到工件上，無論是鍍層測厚或者資料剖析，都能夠保證其丈量結果的再現性。同時，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺式丈量設備，以便檢測小型樣品。