| 品牌 | TaylorHobson/英國泰勒霍普森 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,生物產業,石油,制藥/生物制藥,綜合 |
泰勒霍普森輪廓儀代理
CCI HD 非接觸式光學3D輪廓儀簡介
CCI HD 是一種非接觸式光學 3D 輪廓儀，具有測量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有新型關聯算法，來查找由我們的精密光學掃描裝置產生的干涉圖的相干峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界專業的非接觸式尺寸測量功能和專業的厚薄膜測量技術。
CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度測量功能，還可以提供兩種類型的膜厚測量。 近年來厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料；測量的厚度限制取決于材料的折射率和標的物的 NA。 測量較薄的涂層被證實為難度更高。現在通過干涉測量法可以研究厚度至 50 納米（同樣取決于折射率）的薄膜涂層。 采用這種新型方法，可以在單次測量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。
CCI HD 非接觸式光學3D輪廓儀優勢
2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
全量程0.1埃的分辨率
適用于0.3% - 100%的表面反射率
RMS 重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%
多語言版本的64位控制和分析軟件
上一篇 : 泰勒霍普森粗糙度儀 泰勒DUO
下一篇 : 菲希爾Fischer測厚儀|代理
蘇公網安備32021402002647
咨詢電話